產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺式納米壓痕儀
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
納米壓印膠
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心輪廓儀接觸式輪廓儀
product
產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章
P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本，適用于半導(dǎo)體，化合物半導(dǎo)體和相關(guān)行業(yè)。 P-170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。
更新時間：2024-06-17
產(chǎn)品型號：P170
瀏覽量：5342
自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P17。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力2D和3D測量，掃描可達200mm無需圖像拼接。結(jié)合UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，有出色測量穩(wěn)定性。
更新時間：2024-06-17產(chǎn)品型號：P17瀏覽量：2483
P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。從可靠性表現(xiàn)來看， P-7具有較好的測量重復(fù)性。
更新時間：2024-06-17產(chǎn)品型號：P7瀏覽量：5023
KLA先進的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，帶有電動載物臺。可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及亞埃級的分辨率。這種Alpha-Step高精度臺階儀/輪廓儀有著可選的3D輪廓分析功能。
更新時間：2024-06-17產(chǎn)品型號：D-600瀏覽量：2958